利用ZEISS METROTOM 1的易于使用的CT技術(shù)，任何人都可以有效地執(zhí)行復(fù)雜的測(cè)量和檢查任務(wù)，只需一次掃描。測(cè)量和檢查觸覺(jué)或光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)無(wú)法檢測(cè)到的隱藏缺陷和內(nèi)部結(jié)構(gòu)。同樣聰明的是:蔡司METROTOM 1的尺寸。由于占地面積小，CT掃描儀很容易進(jìn)入測(cè)量實(shí)驗(yàn)室，并且可以一次完成內(nèi)部測(cè)量和檢查。