蔡司掃描電鏡Sigma300電子掃描顯微鏡用于高品質成像與高級分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡，靈活的探測，4步工作流程，高級的分析性能，將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術相結合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。
  多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高效率。
  蔡司掃描電鏡Sigma300性價比高。Sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器，可快速方便地實現基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。